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购置“扫描探针显微镜(原子力显微镜)”招标项目报名公告

发布日期:2012-09-28
项目单位:清华大学
招标代理机构:清华大学

清设报第2011076号

清华大学拟对购置“扫描探针显微镜(原子力显微镜)”项目进行招标,欢迎具有相应资质的单位报名参与投标。项目情况及相关要求如下:

一、项目简介

清华大学精仪系摩擦学国家重点实验室购置“扫描探针显微镜(原子力显微镜)”,用于微纳米尺度研究项目。

二、招标内容

扫描探针显微镜 数量:1台

设备及主要

配件名称 技术指标

主机控制器 (1)工作模式包括:

? 接触模式 (Contact Mode)

? 轻敲模式 (Tapping Mode) 

? 横向力显微镜 (Lateral Force Microscopy, LFM)

? 相位成像模式 (Phase Imaging)

? 磁力显微镜(Magnetic Force Microscopy, MFM) 

? 静电力显微镜 (Electric Force Microscopy, EFM)

? 表面电势显微镜 (Surface Potential Microscopy)

? 纳米刻蚀/操纵功能

? 动态和静态力曲线测试

? 力阵列测量

2扫描器要求 XY扫描器范围不小于90μm×90μm Z轴扫描器范围可达10μm

必须提供XYZ三方向闭环控制,且XY方向闭环传感器噪音小于0.5nm,非线性度<0.5%,Z轴非线性度小于0.05%。

? 具备至少二个内置锁向放大器,可实现-180?到+180?全线性定量相位成像、压电响应模式和多频率高次谐波测试。

? 高性能图像分析软件模块,可进行多路系统叠加成像。具有一定的二次开发/编程功能,可以实现JPEG等格式的图像导入的纳米刻蚀。软件需具备离线操作功能,即在未与AFM相连的个人电脑上可以不限次数地安装,进行数据、图像处理等功能操作。全部功能运行软件,终身免费升级。

? 可提供直接观测视场CCD,最好同时具有上视光路和下视光路两路成像系统,可倒置观察透明样品。

? 磁力显微镜要求: 要求既能测量垂直方向磁畴,又能测量水平方向磁畴.

? 静电力显微镜及表面电势成像要求: 必须采用抬起模式,以避免形貌图像对静电力图像和表面电势图像的影响.

? 压电响应模式要求既能获得面外的压电响应图像,又可获得面内的压电响应图像。

原子力显微镜系统需包含以下配件

电学测试模块 使用导电AFM 探针。采用AFM接触模式和电流检测相结合的方法测量样品局部电学特性。

液体样品池

(加热组件) 可以用于封闭式液池成像,带温度控制模块,多路进出口,可以实现全封闭的液体气体循环。加热器包含加热组件和热敏传感器提供温度控制。温度控制软件提供环境温度不低于80°C 间精确控制,温度精确度0. 2 °C,稳定性可达0.1°C。

减震台 防震平台提供防震

隔音柜 保证原子力显微镜的最佳工作状态。

三、资格预审要求

1、独立法人资格(提供投标单位营业执照复印件,加盖公章);

2、有针对本项目的法人代表授权委托书(原件);

3、年度销售业绩(提供财务审计报告复印件,加盖公章);

4、 不同时为制造商的投标商应提供对此次招标项目的制造商授权书(原件)。

5、企业资质证明、质量体系认证及其它相关材料(复印件,加盖公章)。

报名时需提交以上资料,招标单位根据以上证明资料进行资格预审。

四、报名时间与地点

报名时间:2012年9月28日-2012年10月12日

(每天上午8:30-11:30,下午1:30-4:30,节假日休息)

报名地点:清华大学实验室与设备处9号楼223室

五、联系方式

联 系 人:王 慧  联系电话:010-62785713

Email: sys-zb@tsinghua.edu.cn

批复文号
 
内容字数:3957
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